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YB-Ⅰ型薄片彎曲應(yīng)變源及應(yīng)變片工作原理實驗裝置
Submitted by admin on Sat, 09/06/2014 - 20:18
主要技術(shù)參數(shù)
應(yīng)變片工作原理、應(yīng)變片靈敏度系數(shù)標(biāo)定、樣條曲線曲率半徑測定、泊松比測試、應(yīng)變圓驗證等實驗；
通過薄片靠模彎曲法得到穩(wěn)定線應(yīng)變源，應(yīng)變測試范圍：-2000～+2000με；
應(yīng)變片電阻變化測量方式：6?位高精度萬用表電阻直接測量法，應(yīng)變片應(yīng)變分辨率小于1με；
主要技術(shù)特點
薄片靠模彎曲法方便得到穩(wěn)定線應(yīng)變源；
電阻直接測量法方便學(xué)生直觀理解應(yīng)變片工作原理及靈敏度系數(shù)定義；
可方便應(yīng)用于線應(yīng)變分布、樣條曲線曲率半徑測定等拓展實驗。
Chinese, Simplified
材料力學(xué)實驗教學(xué)裝置
